产品型号：GRUMTF-1

适用范围：

微带/薄膜滤波器、耦合器、功分器；薄膜/厚膜贴片衰减器、隔离器、负载；MEMS滤波器、IPD器件以及其他小型化平面电路或具有平面焊盘引出端的元器件的高频参数精确测试。

产品特点： 

同轴传输线内导体和微带线直接压接，通过调整介电常数等工艺手段匹配寄生参数，最大程度减小传输反射面，适用频率高达40GHz。

通用性强，测试精确，不同器件只需更换器件载片即可满足测试需要。

采用高精度连续行程移动平台，夹具与待测件连接点可在X-Y-Z三个方向任意调节，千分尺刻度控制位移，待测件引出端位置任意变化均可保证连接精度。

采用电子显微镜轻松观察待测件连接点，适用微小芯片级元器件精确连接测试。

涉及微波传输的关键部件采用黄铜镀金加工工艺，具有良好的传输和接地特性。

校准件：

采用TRL 校准件，可将仪表的测试参考面校准到待测件两端。使用时在仪表中设置校准件参数，按仪表提示将校准件放入夹具测试位校准即可。不同尺寸待测件可共用同一套校准件。

载片： 

GRUMTF-1 的基本结构通用性很强，不同器件只需设计宽度与待测件宽度一致的载片即可。测试载片结构和校准件一致。